Flir y edevis impulsan los ensayos no destructivos automatizados en tiempo real con la integración de la cámara térmica MWIR Flir A6450
Flir, empresa de Teledyne, presenta un nuevo avance en los ensayos no destructivos (END) automatizados gracias a una colaboración tecnológica con edevis GmbH, líder en termografía activa.
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Flir, empresa de Teledyne, presenta un nuevo avance en los ensayos no destructivos (END) automatizados gracias a una colaboración tecnológica con edevis GmbH, líder en termografía activa. Juntas, ambas compañías demuestran cómo la cámara MWIR refrigerada de larga duración Flir A6450 se integra perfectamente en flujos de trabajo de inspección automatizados para detectar anomalías estructurales en tiempo real, permitiendo a los fabricantes identificar defectos que los métodos tradicionales de inspección puntual o los sensores convencionales suelen pasar por alto.
En sectores como la automoción, la energía y la fabricación avanzada, defectos ocultos como quemaduras por rectificado, delaminación de recubrimientos, fallos de adhesión e irregularidades subsuperficiales pueden comprometer la integridad de los productos. Las técnicas de inspección convencionales suelen analizar únicamente pequeñas áreas, dejando sin detectar defectos críticos. El enfoque desarrollado por Flir y edevis establece un nuevo estándar para la inspección térmica de superficies completas a alta velocidad, proporcionando resultados accionables en cuestión de segundos.
En el núcleo del sistema se encuentra la Flir A6450, diseñada para un funcionamiento continuo 24/7 en entornos industriales exigentes. Su refrigerador de larga duración, con una vida útil nominal de 27.000 horas, y sus capacidades de imagen térmica MWIR de alta velocidad permiten una medición precisa de la temperatura y una captura rápida de las respuestas térmicas, requisitos fundamentales para identificar defectos subsuperficiales mediante termografía activa. Cuando se combina con la excitación láser y el software avanzado de termografía de edevis, el sistema revela anomalías estructurales invisibles para el ojo humano y difíciles de detectar mediante sensores convencionales.
«Los fabricantes están sometidos a una presión cada vez mayor para automatizar más procesos de aseguramiento de la calidad sin renunciar a la máxima fiabilidad», afirmó Mathew Hasty, Global Vertical Director de Flir. «La A6450 ha sido diseñada específicamente para este tipo de entornos. Combinada con la termografía activa de edevis, proporciona información en tiempo real sobre el comportamiento estructural que ayuda a los clientes a detectar defectos de forma temprana y mantener la producción en marcha».
Las plataformas de termografía activa de edevis se utilizan ampliamente para la inspección estructural de metales, materiales compuestos, componentes de baterías y piezas mecanizadas de precisión. Gracias a la integración de la tecnología de imagen térmica de Flir, estos sistemas proporcionan una visión más profunda del comportamiento de los materiales bajo excitación térmica y permiten la toma de decisiones automatizada directamente en la línea de producción. El resultado es un proceso de inspección fiable, sin contacto y repetible, capaz de adaptarse a los ritmos de producción de la fabricación moderna.
«Nuestra misión es hacer que los END de alta precisión sean totalmente automatizados, rápidos y fáciles de integrar», afirmó Alexander Dillenz, director general de edevis GmbH. «La A6450 de Flir nos proporciona el rendimiento térmico y la estabilidad a largo plazo necesarios para un uso industrial continuo. Juntos, estamos permitiendo a los fabricantes detectar defectos que de otro modo permanecerían ocultos y hacerlo a la velocidad que exigen sus líneas de producción».
A medida que las industrias aceleran la adopción de tecnologías de inspección automatizada, la combinación de la tecnología de imagen térmica de Flir y la termografía activa de edevis ofrece una solución escalable y preparada para el futuro. Ya sea aplicada a discos de freno, estructuras compuestas, celdas de baterías o componentes semiconductores, este flujo de trabajo integrado proporciona a los fabricantes una potente herramienta para garantizar la integridad de los productos y reducir el desperdicio de material.
